yandex rtb 1
ГоловнаЗворотній зв'язок
yande share

Наноелектроника (2 часть)

Висновки

 

Підсумки цього дослідження можна сформулювати так:

1.        Температурні коефіцієнти поздовжньго і поперечнього коефіцієнтів тензочутливості електричного опору двошарових тонких металевих плівок майже рівні. Вони практично дорівнюють температурному коефіцієнту опору двошарових тонких металевих плівок.

2.        Температурні коефіцієнти поздовжнього (поперечного) коефіцієнтів тензочутливості одношарової та двошарової тонких металевих плівок мають розмірні залежності.

3.    Отримані залежності продемонстрували, що осадження верхнього шару Au на базовий шар Ag призводить до зниження температурyного коефіцієнта поздовжнього (поперечного) коефіцієнта електричного опору всієї плівки порівняно з базовим шаром. Таке зниження помітно залежить від товщини верхнього шару.

4.    При збільшенні товщини базового шару, відношення / та / наближаються до одиниці незалежно від товщини верхнього шару. Це означає, що плівка буде поводити себе як масивний матеріал базового шару плівки.

5.    Таким чином, можна зробити висновок, що рівняння (34) може бути прийнятним виразом для температурного коефіцієнта поздовжнього (поперечного) коефіцієнту тензочутливості електричного опору двошарової тонкої металевої плівки. Цей вираз доцільний у випадку, коли беруться до уваги відбиття і заломлення електронів провідності на межі поділу між шарами та за умови, коли диференційна зміна опору плівки при деформації  не залежить від температури 1).

 

 

1) У праці Проценко С.І. // ФХТТ. – 2002. – Т .3, № 3. – С. 401 – 403 використана протилежна гіпотеза (примітка редактора перекладу).

 

 

 

Список літератури (поданий в авторській редакції)

 

1.        Verma B. S., Shajrma S. K. Thin Solid Films. – 1970. – V. 5. – P. R33 – R47.

2.        Reale C. Czech. J. Phys. – 1971. – V. B21. – P. 662.

3.        Verma B. S., Jain G. C. Thin Solid Films. – 1972. – V. 11. – P. 27.

4.        Witt R. Thin Solid Films. – 1974. – V. 22. – P. 133.

5.        Tellier C. R. Thin Solid Films. – 1978. - V. 48. – P. L9.

6.        Richard C. R., Tellier C. R., Tosser A. J.J. Phys. D. – 1980. – V.13. – P. 1325.

7.        Sharma B. K., Srivastava R. Thin Solid Films. – 1984. –V. 113. – P. L19.

8.        Tellier C. R., Pichard C., Tosser A. J. Thin Solid Films. – 1977. – V. 42. – P. L31.

9.        Tellier C. R., Tosser A. J. Thin Solid Films. – 1977. –     V. 44. – P. 141 – 201.

10.    Tellier C. R., Boutrit C. Thin Solid Films. – 1977. – V. 46. – P. 307.

11.    Jain N., Srivastava R. J. Mater. Sci. Letters. – 1982. – V. 1. – P. 397.

12.    Wedler G., Alshobachi G. Thin Solid Films. – 1980. –V.74. – P.1.

13.    Koshy J. J. Phys. D. – 1980. – V. 13. – P. 1339.

14.    Shtvaprasad S. M., Angadi M. A. J. Phys. D. – 1980. –     V. 13. – P. L171.

15.    Boyer A., Deschacht D., Groubert E. Thin Solid Films. – 1981. –V. 76. – P. 119.

16.    Helms H., Scheibe A. Thin Solid Films. – 1981. -V. 78. – P. L49.

17.    Renucci P., Gaudart L., Petrakian J. P. et al. Thin Solid Films. – 1983. – V. 109. – P. 201.

18.    Angadi M. A., Shivaprasad S. M. J. Mater. Sci. – 1984. –V. 19. – P. 2396.

19.    Fuchs K. Proc. Cambridge Phil. Soc.–1938.–V.34.– P.100.

20.    Sondheimer E. H. Adv. Phys. – 1952. –V. 1. – P. 1.

21.    Khater F., El-Hiti M. J. Mater. Sci. Letters. – 1988. –       V. 7. – P. 1043 - 1045.

22.    Khater F., El-Hiti M. Phys. Stat. Sol. –1988. – V.108. – P. 241.

23.    Tellier C. R., Tosser A. J. Size Effects in Thin Films. – Amsterdam – Oxford – New York: Elsevier. – 1982. – 278 p.

24.    Kuczynski G. C. Phys. Rev. – 1954. – V. 94. – P. 61.

25.    Khater F. Acta Phys. Slov. – 1983. – V. 83. – P. 43.

26.    Verma B. S., Jujretschke H. J. J. Appl. Phys. – 1970. –     V. 41. – P. 4732.

27.    Robinson R. G. R., Stephens K. G., Wilson I. H. Thin Solid Films. – 1975. –V. 27. – P. 251.

 

61